摘要：本發明涉及一種采用雙波長結構光測量物體輪廓的方法及裝置，屬于光學測量技術領域。首先投影儀產生一束經正弦調制后的白光，將白光照射到待測物體上，光場被待測物體調制，照相機拍攝得到圖像，使用自相關法計算上述圖像上各像素點的相位差，以另一波長進行正弦調制，重復上述過程得到相位差，對兩次正弦調制的波長進行組合，得到組合波長和組合相位差，然后計算各像素點的深度，根據設定的物體表面的連續性約束條件，對各像素點的深度進行解包絡，得到物體實際三維形狀。本發明的裝置包括：投影儀、照相機和計算機。本發明的方法和裝置，算法穩定性好，可以測量表面形狀更加復雜的物體，測量精度高于已有技術。
- 專利類型發明專利
- 申請人清華紫光股份有限公司;
- 發明人辛建波;高宏;
- 地址100084北京市海淀區清華園清華大學紫光大樓
- 申請號CN200510132886.6
- 申請時間2005年12月29日
- 申請公布號CN1786658A
- 申請公布時間2006年06月14日
- 分類號G01B11/24(2006.01);G01B21/20(2006.01);
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