摘要：本實用新型的提供了一種避光條件下自動線性測試裝置，包括：探測器、暗箱側蓋、同步帶大輪、過渡件、偏振片、LED光源、暗箱罩、同步帶小輪、同步帶、步進電機；暗箱側蓋和暗箱罩組成的暗箱上面所有需要固定其他器件的部分設計成便于避光的凹臺結構，探測器、步進電機安裝在暗箱側蓋上的相應凹臺中，LED光源安裝在暗箱側蓋上的相應凹臺中，步進電機帶動固定在其上面的同步帶小輪轉動，進而帶動同步帶大輪轉動，同步帶大輪通過過渡件與偏振片的可轉動端安裝成一體，這樣最終實現偏振片的一端不動，一端隨著步進電機的工作而動，達到入射光由弱變強的目的。本實用新型的技術效果能夠克服現有技術的不足，實現光強由弱變強進行探測器的線性測試的問題。
- 專利類型實用新型
- 申請人北京濱松光子技術股份有限公司;
- 發明人譚永紅;
- 地址100070 北京市豐臺區南四環西路128號院諾德中心3號樓903室
- 申請號CN201620510914.7
- 申請時間2016年05月31日
- 申請公布號CN205670016U
- 申請公布時間2016年11月02日
- 分類號G01D18/00(2006.01)I;
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