摘要：本實用新型涉及一種光學材料折射率曲線測量裝置。包括用于測量待測光學材料不同波長的群折射率值的寬帶光相干干涉系統及用于測量該待測光學材料在一確定的激光波長下對應的折射率值的激光雙縫干涉系統，結合待測光學材料不同波長的群折射率值及其在確定的激光波長下對應的折射率值，即可得到待測光學材料在整個波長范圍的折射率曲線。本實用新型結構簡單，易于實現，簡化了傳統復雜的光學材料折射率曲線測量操作步驟。
- 專利類型實用新型
- 申請人福州大學;
- 發明人鐘舜聰;張秋坤;鐘劍鋒;
- 地址350108 福建省福州市閩侯縣上街鎮大學城學園路2號福州大學新區
- 申請號CN201520686530.6
- 申請時間2015年09月08日
- 申請公布號CN205049478U
- 申請公布時間2016年02月24日
- 分類號G01N21/45(2006.01)I;
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