摘要：為了提高阿達瑪變換近紅外光譜儀微鏡陣列單個微鏡的光通量，進而提高檢測靈敏度和信噪比，本發明提供了一種新型的阿達瑪變換近紅外光譜儀。阿達瑪變換近紅外光譜儀，包括由微鏡排列成的一維微鏡陣列，微鏡鏡面的形狀為具有長軸和短軸的長條形狀，所述一維微鏡陣列由微鏡之間沿微鏡鏡面短軸方向并排呈直線排列，排列方向沿光譜色散方向。經前置光學系統和光柵色散后的不同波長區間的光分別照射到所述并行排列的微鏡表面，經微鏡反射后由后置光學系統聚焦到檢測器上。由于增加了單個微鏡的面積，增大了光通量，因此采用本發明的技術方案可以使儀器檢測靈敏度提高，檢測結果的信噪比提高十倍以上。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京華夏科創儀器技術有限公司;
- 發明人張新民;
- 地址100085北京市海淀區上地信息路2號2座10E
- 申請號CN200810239142.8
- 申請時間2008年12月10日
- 申請公布號CN101419163A
- 申請公布時間2009年04月29日
- 分類號G01N21/45(2006.01)I;
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