摘要：本發明屬于光譜分析技術。為了降低阿達瑪變換近紅外光譜儀的體積，本發明提供了一種阿達瑪變換近紅外光譜儀檢測光的方法，包括透過樣品的入射光被準直后投射到光柵的步驟、投射到光柵的光發生第一次衍射并經準直后投射到微鏡陣列的步驟，經微鏡陣列調制并反射的光被準直后投射到所述光柵進行第二次衍射步驟，聚焦步驟A第二次衍射的光到檢測器步驟。本發明可以廣泛應用于物質的近紅外光譜分析領域。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京華夏科創儀器技術有限公司;
- 發明人張新民;
- 地址100085北京市海淀區上地信息路2號2座10E
- 申請號CN200810239143.2
- 申請時間2008年12月10日
- 申請公布號CN101419164A
- 申請公布時間2009年04月29日
- 分類號G01N21/45(2006.01)I;
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