摘要：本發明涉及一種光學材料折射率曲線測量方法及裝置。該方法，首先通過一寬帶光相干干涉系統測量待測光學材料不同波長的群折射率值；其次，通過一激光雙縫干涉系統測量待測光學材料在一確定的激光的波長下對應的折射率值；最后，采用積分算法結合上述的測量結果對待測光學材料在整個波長范圍的群折射率值進行計算，進而得到待測光學材料在整個波長范圍的折射率曲線。本發明簡化了傳統復雜的操作，實現材料在整個波段的折射率曲線的簡易測量，是一種快速便捷的高精度的實用性強的材料折射率測量方法。
- 專利類型發明專利
- 申請人福州大學;
- 發明人鐘舜聰;張秋坤;鐘劍鋒;
- 地址350108 福建省福州市閩侯縣上街鎮大學城學園路2號福州大學新區
- 申請號CN201510562661.8
- 申請時間2015年09月08日
- 申請公布號CN105115940A
- 申請公布時間2015年12月02日
- 分類號G01N21/45(2006.01)I;
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