摘要：本實用新型屬于長度計量技術領域，具體涉及一種卡尺檢定用孔距規，目的是解決對于非標準類型的卡尺無法通過直接接觸測量量塊量值來實現檢定的問題。其特征在于：它為長方形尺狀，其垂直度不大于10μm，在其短邊中心線上布置有幾個同直徑的通孔，通孔的直徑和間距根據通用卡尺檢定規程JJG30-2012確定。本實用新型采用其垂直度不大于10μm，短邊中心線上布置相同直徑通孔的長方形尺狀結構，可對被檢測的中心距卡尺進行直接比較測量，讀取被檢測的中心距卡尺的示值誤差，測量方便準確，顯著提高了對非標準類型卡尺的測量能力和范圍。
- 專利類型實用新型
- 申請人北京航天計量測試技術研究所;中國運載火箭技術研究院;
- 發明人尹琨;劉婭欣;趙賓;
- 地址100076 北京市豐臺區南大紅門路1號
- 申請號CN201420643916.4
- 申請時間2014年11月02日
- 申請公布號CN204788101U
- 申請公布時間2015年11月18日
- 分類號G01B3/18(2006.01)I;
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