摘要：本實用新型公開一種光譜分析小樣品表面定位裝置，該裝置安裝于光譜分析儀器中，包括裝有樣品（1）的樣品盒（2），若干或多個樣品盒（2）放置在樣品盒平臺（3）上，樣品盒平臺（3）設置在X軸與Y軸組成的運行裝置上，樣品盒（2）內部的樣品（1）下方設置有樣品頂緊裝置（8），使樣品（1）的上分析表面與光譜分析儀采光高度位置一致；本實用新型的X軸與Y軸運行裝置為正交連接；本實用新型可同時進行多品種或多型號樣品的分析，使分析效率提高，分析過程更加方便以及分析結果更加精確。
- 專利類型實用新型
- 申請人鋼研納克檢測技術有限公司;
- 發明人陳永彥;張勇;韓鵬程;屈華陽;趙雷;劉佳;
- 地址100081 北京市海淀區高粱橋斜街13號
- 申請號CN201320370497.7
- 申請時間2013年06月26日
- 申請公布號CN203502333U
- 申請公布時間2014年03月26日
- 分類號G01N21/01(2006.01)I;
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