摘要：一種雙目顯微三維測量裝置。顯微鏡應用領域中二維平面上成像測量微小的目標物體一直是傳統經典的方法，隨著科技的發展三維的檢測得到應用，尤其是工業系統中的微粒檢測等方面有著非常重要的用途。本產品的組成包括:體式顯微鏡（4），所述的體式顯微鏡與CCD攝像機（3）連接，所述的CCD攝像機與計算機（1）連接，所述的CCD攝像機與體式顯微鏡設置在固定支架(5)上，條紋投影儀(2)與計算機連接，所述的條紋投影儀調整到與顯微鏡形成一個投影點后固定在固定支架上，所述的支架固定在檢測臺(6)上。本實用新型用于公安、金融及工業領域。
- 專利類型實用新型
- 申請人黑龍江省科學院自動化研究所;
- 發明人吳岡;高鳳嬌;李君霞;孫永欣;張賢杰;李昕迪;
- 地址150001 黑龍江省哈爾濱市南崗區漢水路165號
- 申請號CN201220592674.1
- 申請時間2012年11月12日
- 申請公布號CN202853582U
- 申請公布時間2013年04月03日
- 分類號G01B11/24(2006.01)I;
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