<acronym id="pokdi"><strong id="pokdi"></strong></acronym>
      <acronym id="pokdi"><label id="pokdi"><xmp id="pokdi"></xmp></label></acronym>

      <td id="pokdi"><ruby id="pokdi"></ruby></td>
      <td id="pokdi"><option id="pokdi"></option></td>
      <td id="pokdi"></td>

        1. 首頁
        2. 裝備資訊
        3. 熱點專題
        4. 人物訪談
        5. 政府采購
        6. 產品庫
        7. 求購庫
        8. 企業庫
        9. 品牌排行
        10. 院校庫
        11. 案例·技術
        12. 會展信息
        13. 教育裝備采購網首頁 > 知識產權 > 專利 > CN201477021U

          一種用于電鍍層表面分析的顯微檢測儀

            摘要:本實用新型涉及一種用于電鍍層表面分析的顯微檢測儀,包括支架、電子控制裝置和計算機,電子控制裝置通過導線與計算機連接,所述支架的頂部設有CCD攝像裝置,CCD攝像裝置包括目鏡和物鏡轉換器,物鏡轉換器的下部設有物鏡和SPM探頭,所述支架的底部設有步進馬達精密調焦裝置,步進馬達精密調焦裝置的上表面設有步進馬達二維精密工作臺,步進馬達二維精密工作臺上表面的中部設有三維掃描臺,三維掃描臺通過導線與電子控制裝置連接。本實用新型的有益效果為:可以用光學顯微鏡來選擇樣品的細節,使要測量的部位進入視場的中央,然后將SPM探頭轉至測量位置,對同一區域進行掃描即可開始高分辨測量,極大地提高了工作效率,成為最實用的表面分析裝置。
          • 專利類型實用新型
          • 申請人蘇州海茲思納米科技有限公司;
          • 發明人胡志強;羅先照;
          • 地址215000 江蘇省蘇州市蘇州工業園區星湖街218號生物納米園A4樓105
          • 申請號CN200920175594.4
          • 申請時間2009年08月24日
          • 申請公布號CN201477021U
          • 申請公布時間2010年05月19日
          • 分類號G01N13/00(2006.01)I;G01N13/10(2006.01)I;
          99久久国产自偷自偷免费一区|91久久精品无码一区|国语自产精品视频在线区|伊人久久大香线蕉av综合

            <acronym id="pokdi"><strong id="pokdi"></strong></acronym>
              <acronym id="pokdi"><label id="pokdi"><xmp id="pokdi"></xmp></label></acronym>

              <td id="pokdi"><ruby id="pokdi"></ruby></td>
              <td id="pokdi"><option id="pokdi"></option></td>
              <td id="pokdi"></td>