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          半導體發光器件壽命加速試驗裝置

            摘要:半導體發光器件壽命加速試驗裝置,屬于半導體發光器件和應用產品的測試領域?,F有技術存在操作復雜、測量結果不準確的缺陷,本實用新型包括溫控箱、設于溫控箱內的試驗樣品支承座以及光傳輸器,所述光傳輸器的一端為采集端,采集端與支承座配合設置,所述的光傳輸器的另一端為測量端,該測量端與測光儀相連,通過設置光傳輸器使得在實驗升溫工程中可直接用測光儀測得試驗樣品的光功率或光通量,避免了反復取放、升降溫過程帶來的測量誤差,操作方便。
          • 專利類型實用新型
          • 申請人杭州浙大三色儀器有限公司;
          • 發明人牟同升;
          • 地址310013浙江省杭州市西溪路525號浙大科技園西區A座225室
          • 申請號CN200720107239.4
          • 申請時間2007年03月13日
          • 申請公布號CN201017022Y
          • 申請公布時間2008年02月06日
          • 分類號G01R31/26(2006.01);
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