摘要：本發明涉及一種具有溫控功能和避免結露的測量半導體發光器件用的溫控座。它包括溫控裝置和與溫控裝置相配合的密封罩，被測試件可置于密封罩內與溫控裝置相配合。本發明的顯著的進步為：1.溫控裝置的設置，使被測試件始終處于相對恒溫狀態，測試結果準確；2.設有密封罩，可以使被測試件與周圍環境隔絕，避免受周圍環境的影響；3.密封件的設置，使密封罩的密封效果更好；4.抽氣口的設置，真空機通過抽氣口連接到密封罩上，可將密封罩內空氣抽取，減少水汽，避免水汽凝結到被測試件上。
- 專利類型發明專利
- 申請人杭州浙大三色儀器有限公司;
- 發明人牟同升;
- 地址310013浙江省杭州市西溪路525號浙大科技園G樓浙大三色
- 申請號CN200710164723.5
- 申請時間2007年12月10日
- 申請公布號CN101187689A
- 申請公布時間2008年05月28日
- 分類號G01R31/26(2006.01);G01J1/00(2006.01);G05D23/00(2006.01);
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