摘要：本發明提供了一種數據測量方法，包括：獲取待測波形以及所述待測波形中需要測量的各個待測參數；為每一個所述待測參數建立與其對應的測量線程；將每一個所述待測參數進行測量時所需的初始值發送給與其對應的測量線程；觸發每一個測量線程，依據其各自接收到的初始值，同時對與其對應的待測參數進行測量。本發明提供的方法，通過為每一個所述待測參數建立與其對應的測量線程，觸發每一個測量線程，從而能夠同時對與其對應的待測參數進行測量，有效提高了參數測量速度及測試人員的測量效率。
- 專利類型發明專利
- 申請人廣州致遠電子股份有限公司;
- 發明人周立功;
- 地址510000 廣東省廣州市天河區高普路1035號第2層204房
- 申請號CN201610855239.6
- 申請時間2016年09月26日
- 申請公布號CN106526269A
- 申請公布時間2017年03月22日
- 分類號G01R13/02(2006.01)I;
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