摘要：本發明提出一種干涉儀及光譜儀。該干涉儀包括殼體、激光器、分束器、平面鏡和動鏡掃描機構；激光器和分束器固定在殼體上；平面鏡用于反射光束；動鏡掃描機構包括支架、擺動臂、樞軸、第一角鏡、第二角鏡和驅動裝置，支架固定在殼體上，擺動臂通過樞軸連接在支架上，用于折返平面鏡反射光束的第一角鏡和第二角鏡固定在擺動臂上且對稱的分布在分束器的兩側，驅動裝置連接擺動臂。該光譜儀包括干涉儀、紅外光源和拋物面鏡。本發明的干涉儀及光譜儀，具有環境適應性強、結構緊湊、體積小、重量輕、穩定性高、低成本優點，能夠在工業現場的環境中使用。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京雪迪龍科技股份有限公司;
- 發明人敖小強;石磊;
- 地址102206 北京市昌平區回龍觀國際信息產業基地3街3號
- 申請號CN201610945887.0
- 申請時間2016年10月26日
- 申請公布號CN106525241A
- 申請公布時間2017年03月22日
- 分類號G01J3/45(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;
教育裝備采購網在線客服
京公網安備11010802043465號
