摘要:本發明公開了一種導軌平行度測量方法,具體為:將左、右側導軌的其中一側作為基準導軌,另一側作為被測導軌;同時采樣左側、右側導軌的高度信息;采用最小二乘法對基準導軌的采樣高度進行擬合得到一條基線;在基準導軌上依據基線生成兩組包容線,從兩組包容線的間距選擇最小者,其對應的上、下包容線作為評定平行度的基準包容線;生成平行于基準包容線且包容被測導軌采樣高度的上、下包容線,上、下包容線間的縱向間距即為平行度。本發明還提供實現上述方法的裝置。本發明實現了機床導軌平行度的快速測量,解決現有測量方法計算冗雜、操作難度大的問題。
- 專利類型發明專利
- 申請人華中科技大學;武漢華中數控股份有限公司;
- 發明人李曦;陳晗;孔剛;朱念念;龍子凡;郭永才;毛延璽;陳吉紅;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區珞喻路1037號
- 申請號CN201510961972.1
- 申請時間2015年12月18日
- 申請公布號CN105403189A
- 申請公布時間2016年03月16日
- 分類號G01B21/22(2006.01)I;