摘要：光電探測器光譜響應測試系統及其測量方法，屬于光學輻射定標測量儀器及方法，解決現有測試系統成本昂貴且難以保證測量精度的問題，以實現光譜響應的高精度測量。本發明的測試系統，包括正弦調制光源、聚光透鏡、單色儀、濾光片輪、暗箱、電機驅動電路，微控制器控制電路、前置放大電路、正弦鎖相放大電路、數據采集卡和計算機，所述正弦調制光源為正弦調制的白熾燈、鹵鎢燈或LED光源。本發明使用正弦調制光源，采用可編程器件實現正弦鎖相放大的方式，測量并繪制在300～900nm范圍內的光電探測器光譜響應，實現高精度測量的同時，降低了設備成本和設計難度。
- 專利類型發明專利
- 申請人華中科技大學;深圳華中科技大學研究院;
- 發明人趙茗;汪少鋒;楊振宇;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區珞喻路1037號
- 申請號CN201510759890.9
- 申請時間2015年11月10日
- 申請公布號CN105258798A
- 申請公布時間2016年01月20日
- 分類號G01J3/28(2006.01)I;G01J3/10(2006.01)I;
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