摘要：本發明公開了屬于高壓氣體放電電磁測量技術領域的一種高壓導線粗糙系數的測量裝置和方法。圓柱電極水平放置于支架上，圓柱電極電氣接地；待測高壓導線水平固定于支桿上，并與圓柱電極同軸放置；直流電場測量儀的探頭放置于圓柱電極上的圓孔內，并與圓柱電極的內表面平齊；連接高壓直流電源的輸出端，在圓柱電極的內表面和待測高壓導線之間形成合成電場，并產生離子流；采樣電阻的一端連接金屬薄膜，另一端接地；采樣電阻的兩端并聯電壓表；調節高壓直流電源的輸出電壓，得到圓柱電極處的合成電場強度、離子流密度、待測高壓導線表面的合成電場強度；進而根據Peek公式獲得待測高壓導線的粗糙系數。能夠實現高壓導線粗糙系數的準確測量。
- 專利類型發明專利
- 申請人華北電力大學;
- 發明人鄒志龍;盧鐵兵;崔翔;卞星明;李沁遠;
- 地址102206 北京市昌平區朱辛莊北農路2號
- 申請號CN201510686248.2
- 申請時間2015年10月21日
- 申請公布號CN105203021A
- 申請公布時間2015年12月30日
- 分類號G01B7/34(2006.01)I;
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