摘要：本發明公開了一種結合幾何標定的相位測量輪廓術系統非線性校正方法。用相位測量輪廓術對標靶進行掃描，得到準確相位、平均亮度和亮度調制，分別利用準確相位和平均亮度對投影裝置和攝像裝置進行標定，根據準確相位和拍攝的結構光圖像獲取投影裝置的非線性響應，建立灰度查找表，在投射結構光圖案進行三維掃描前，利用該查找表對圖案的灰度值進行預補償，從而達到對測量系統進行非線性校正的目的。本發明可用于相位測量輪廓術系統的幾何標定和非線性校正。本發明把測量系統的幾何標定與非線性校正有機結合起來，具有操作簡便，校正精度和執行效率高的優點。
- 專利類型發明專利
- 申請人四川大學;
- 發明人劉凱;龍云飛;鄭曉軍;吳煒;楊曉敏;
- 地址610065 四川省成都市武侯區一環路南一段24號
- 申請號CN201410459772.1
- 申請時間2014年09月11日
- 申請公布號CN104236482B
- 申請公布時間2016年09月28日
- 分類號G01B11/25(2006.01)I;
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