摘要：本發明涉及圖像檢測技術領域，特別涉及一種TFT-LCD點燈自動光學檢測的圖像處理方法。該圖像處理方法，包括：采集顯示屏處于不同模式下的圖像；對采集到的圖像進行預處理，去除背景干擾；對預處理過的圖像進行掩膜處理；缺陷提取計算。本發明實施例提供的TFT-LCD點燈自動光學檢測的圖像處理方法應用自動光學檢測多個模式，能將點、線、Mura缺陷正常檢測，且可將亮點、亮線缺陷精確定位到一個亞像素、Mura缺陷按照SEMU準則分類。該圖像處理流程簡便，可有效確保檢出率。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京兆維電子（集團）有限責任公司;
- 發明人王新新;李晨;徐江偉;
- 地址100015 北京市朝陽區酒仙橋路14號
- 申請號CN201310005039.8
- 申請時間2013年01月07日
- 申請公布號CN103913461A
- 申請公布時間2014年07月09日
- 分類號G01N21/88(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I;
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