摘要：本發明提供了一種TDLAS氣體檢測方法及系統，所述方法包括：半導體激光器出射的線激光入射到傳輸光纖；傳輸光纖出射的線激光入射到全反射鏡；全反射鏡將線激光反射后入射到垂直放置的氣室；入射到氣室的線激光經第一透鏡組反射后從線激光的入射面出射；分析裝置接收垂直放置的氣室出射的線激光進行檢測，混合氣體由于各個氣體的比重不同，在垂直放置的氣室中分層，激光入射到垂直放置的氣室內后，經過第一透鏡組反射后從激光的入射面出射，激光可以照射到垂直放置的氣室中的每一層氣體，防止出現氣體漏檢的情況，減小混合氣體檢測的誤差。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京雪迪龍科技股份有限公司;
- 發明人梁學軍;
- 地址102206 北京市昌平區回龍觀國際信息產業基地3街3號
- 申請號CN201310741792.3
- 申請時間2013年12月27日
- 申請公布號CN103645156B
- 申請公布時間2016年03月02日
- 分類號G01N21/39(2006.01)I;
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