摘要：本發明公開了單晶材料定向標定技術領域中的一種在立方晶體背射勞埃照片上標定（111）晶面的方法。包括：獲取勞埃照片并測量勞埃照片與晶體間距離h；在勞埃照片的三條低指數晶帶上分別找出一個屬于同一晶面族的衍射斑點；在勞埃照片底部襯上一張坐標紙；調整勞埃照片，使得三個衍射斑點中的任意兩個衍射斑點分別位于坐標紙原點和x軸正方向上；根據三個衍射斑點的坐標、勞埃照片中心點的坐標和距離h，求解（111）晶面的衍射斑點的坐標；根據（111）晶面的衍射斑點的坐標，將（111）晶面標定在勞埃照片上。本發明借助坐標紙直接在勞埃照片上標定（111）晶面，計算簡單且計算速度快，同時避免了中間步驟帶來的計算誤差。
- 專利類型發明專利
- 申請人華北電力大學;
- 發明人馬雁;許雁澤;張書玉;陳義學;
- 地址102206 北京市昌平區回龍觀朱辛莊2號
- 申請號CN201310541278.5
- 申請時間2013年11月05日
- 申請公布號CN103529066B
- 申請公布時間2016年01月13日
- 分類號G01N23/20(2006.01)I;
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