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          干擾環境下天線陣列方向向量的測定方法

            摘要:該發明屬于電子信息技術領域中的天線陣列方向向量的測定方法;包括初始化處理,建立接收信號向量樣本自相關矩陣,確定當前及所有離散方向上噪聲子空間及信號子空間,建立關聯噪聲子空間矩陣并確定各子空間矩陣最小奇異值,獲取干擾信號方向與測試用信號源方向的角度差,天線陣列方向向量的測定。該發明在天線陣列接收信號向量樣本的基礎上,采用其樣本自相關矩陣的噪聲子空間、信號子空間、關聯噪聲子空間矩陣、關聯信號子空間矩陣以及方向向量的第一個元素等于1的約束關系,實現干擾環境下對陣列天線方向向量的測定;具有測得的方向向量與實際方向向量之間的相關系數都大于97%,其中95%的相關系數都大于99%,相似度極高等特點。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人電子科技大學;同方電子科技有限公司;
          • 發明人萬群;徐保根;萬義和;湯四龍;殷吉昊;龔輝;丁學科;周志平;
          • 地址611731 四川省成都市高新區(西區)西源大道2006號
          • 申請號CN201210590606.6
          • 申請時間2012年12月31日
          • 申請公布號CN103017728B
          • 申請公布時間2014年11月26日
          • 分類號G01C1/00(2006.01)I;
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