摘要：本發明公開了一種頻率偏差與相位偏差的聯合測量方法及裝置。本發明在對移動通信終端進行測試過程中，不考慮多用戶干擾的情況下，提供了一種基于矩陣預處理機制的頻偏和相偏聯合測量方法，其利用預先構造的結構矩陣，對其進行經濟型的簡化QR分解，并以之求采樣數值曲線的回歸線最小二乘解，從而得到頻率偏差和相位偏差的最優解。采用本發明可實現頻率偏差與相位偏差的聯合測量，且與現有技術相比具有更高算法效率和更強的適用性。
- 專利類型發明專利
- 申請人上海創遠儀器技術股份有限公司;
- 發明人張力;張途;
- 地址200233 上海市徐匯區桂箐路69號28幢4樓
- 申請號CN201110316111.X
- 申請時間2011年10月18日
- 申請公布號CN102387098B
- 申請公布時間2014年04月16日
- 分類號H04L25/02(2006.01)I;H04L25/03(2006.01)I;
教育裝備采購網在線客服
京公網安備11010802043465號
