摘要：本發明公開了一種雙層介質空間中的聲場測量變換方法，該方法的步驟為：在聲源S1附近建立兩個同軸的柱面測量面，S1位于柱面內，分別測量兩個測量面上的聲壓分布p1，p2；將介質分界面反射的聲波看作是聲源S1關于界面的鏡像S2直接發出的聲波；將每個測量面上的聲壓分解為自S1和S2處直接傳播至各測量面的聲壓之和，即，p1(x1，y1，z1)＝p11(x1，y1，z1)+p21(x1，y1，z1)，p2(x2，y2，z2)＝p12(x2，y2，z2)+p22(x2，y2，z2)；上述兩式左右兩邊分別進行二維傅立葉變換，并根據聲源S1和虛聲源S2在兩個柱面測量面上的聲壓關系，即，求解波數域的聲壓分布，然后通過二維傅立葉逆變換得到空間域上聲源S1直接傳播至兩個測量面上的聲壓p11，p12；最后利用測量得到的任一測量面上的來自S1的聲壓分布進行柱面全息反演變換，從而獲得全空間的聲壓分布。該方法克服了由于界面的存在導致聲場測量變換準確度差的缺陷，并且，變換過程簡單，計算量小，速度快。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京神州普惠科技有限公司;
- 發明人何元安;張若愚;聶佳;申和平;
- 地址100085 北京市海淀區上地東路1號院3號樓華控大廈9層
- 申請號CN201010110231.X
- 申請時間2010年02月01日
- 申請公布號CN102141431B
- 申請公布時間2013年11月20日
- 分類號G01H17/00(2006.01)I;
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