摘要：本發明涉及一種防偽檢測系統，包括：激勵磁場發生裝置，用于產生激勵磁場；感測信號提取裝置，用于在將防偽材料置入所述激勵磁場時，提取所述防偽材料中的非晶合金細長材料在所述激勵磁場中感生出的感生電壓信號，其中所述非晶合金細長材料的長度方向與所述激勵磁場方向一致；防偽信號判斷裝置，用于判斷所述感生電壓信號的衰減方式是否符合預設要求，是則確定所述防偽材料為真防偽材料，否則確定所述防偽材料為假防偽材料。本發明以非晶合金感生出的電壓信號的衰減情況作為防偽材料真偽的判斷依據，這既不要求防偽材料中非晶合金細長材料有特定順序，也避免了在對防偽材料進行防偽檢測時，褶皺或者傾斜等帶來的誤報問題。
- 專利類型發明專利
- 申請人安泰科技股份有限公司;
- 發明人陳征;種挺;張俊峰;張宏浩;李德仁;盧志超;周少雄;
- 地址100081 北京市海淀區學院南路76號
- 申請號CN200910158123.7
- 申請時間2009年07月13日
- 申請公布號CN101900756A
- 申請公布時間2010年12月01日
- 分類號G01R19/04(2006.01)I;G01R19/25(2006.01)I;D21H21/42(2006.01)I;
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