摘要:本發明涉及一種防偽材料,防偽材料的基片中嵌入或貼附有至少兩根非晶合金細長材料,非晶合金細長材料中至少有兩根具有不同的矯頑力,非晶合金細長材料相互平行。本發明還涉及一種防偽檢測的方法,包括以下步驟:將防偽材料置入激勵磁場,并提取非晶合金細長材料在激勵磁場中感生出的感生電壓信號;判斷感生電壓信號的衰減方式是否符合預設要求,是則確定防偽材料為真防偽材料,否則確定防偽材料為假防偽材料。本發明以非晶合金感生出的電壓信號的衰減情況作為防偽材料真偽的判斷依據,這既不要求防偽材料中非晶合金細長材料有特定順序,也避免了在對防偽材料進行防偽檢測時,褶皺或者傾斜等帶來的誤報問題。
- 專利類型發明專利
- 申請人安泰科技股份有限公司;
- 發明人陳 征;張俊峰;張宏浩;種 挺;李德仁;盧志超;周少雄;
- 地址100081北京市海淀區學院南路76號
- 申請號CN200810183553.X
- 申請時間2008年12月18日
- 申請公布號CN101424059A
- 申請公布時間2009年05月06日
- 分類號D21H21/42(2006.01)I;