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          基于單片機光柵雙讀數頭的三維激光掃描測量系統

            摘要:基于單片機光柵雙讀數頭的三維激光掃描測量系統屬于三維空間信息獲取技術領域,它解決了該領域建立三維激光掃描測量系統中的高精度轉角測量及控制技術難題。該系統利用成熟的2D激光掃描測量技術,通過應用單片機、光柵和雙讀數頭構建了可以消除或減弱偏心誤差影響的轉角測量單元;實現了系統中的轉臺旋轉控制、轉角測量控制、激光測量控制的協調同步,組建了一個三維激光掃描測量系統。此發明可以進行室內室外的三維空間數據的快速采集,為規劃、文物保護、測繪、公安刑偵勘察、交通等部門提供一個進行快速三維空間數據采集的技術設備平臺。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人首都師范大學;北京四維遠見信息技術有限公司;
          • 發明人宮輝力;葉澤田;
          • 地址100037 北京市海淀區西三環北路105號
          • 申請號CN200810180028.2
          • 申請時間2008年11月20日
          • 申請公布號CN101738173A
          • 申請公布時間2010年06月16日
          • 分類號G01B11/26(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;
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