摘要：一種CCD線陣相機精密檢校裝置，屬于CCD相機的精密檢校領域，解決了CCD線陣相機精密檢校中控制點的確定問題。在整體支架上放置檢測圖形平面載體，檢測圖形置于檢測圖形平面載體上，整體支架水平調整裝置位于整體支架的底部，與整體支架相連；在整體支架上安裝兩條相互平行的精密導軌；檢測圖形平面載體通過兩個導軌滑動塊懸于兩精密導軌上；檢測圖形平面載體頂部設計有高精度水準氣泡；驅動電機通過絲杠與導軌滑動塊相連，帶動檢測圖形平面載體沿精密導軌移動；載體位移編碼器與電機同軸連接。通過用不同位置上得到的若干組CCD線陣相機測量數據和相應的控制點的空間坐標數據可求解CCD相機的投影中心、方位、姿態參數。
- 專利類型實用新型
- 申請人北京四維遠見信息技術有限公司;
- 發明人葉澤田;
- 地址100039 北京市海淀區北太平路16號
- 申請號CN200820178123.4
- 申請時間2008年11月20日
- 申請公布號CN201436557U
- 申請公布時間2010年04月07日
- 分類號G01C25/00(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;
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