弱光微光微光亮度計是一種測光和測色的計量儀器，是每個化學分析實驗室常用儀器設備之一，在各種定量和定性分析中得到了廣泛的應用。微光亮度計在稀土材料、熒光材料、反光服飾等微光檢測專用儀器。
SS200LM是遮光筒式弱光微光亮度計（輝度計、全數字微光亮度計），采用 SMT32芯片、嵌入式系統，高速16位AD取樣精度高 ，精密放大電源電路、低功耗，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定， 適用性強。該儀器測量應急出口標志、背光源、面光源等的亮度均勻性測量，經濟實用，操作簡易。 亮度探頭V（λ）修正水平達國家標準級（CLASS A），實現亮度的精確測量工作。
鋁合金機身、154寸IPS觸摸屏、上下線設置、分選測試、光度變化曲線（PC軟件）、16位100KS/s采樣（高速）、亮度、平均亮度、最大亮度、最小亮度、透射比。
一、參數性能
型號 | SS200LW弱光微光照度計 |
光譜響應 | Λ380-780nm |
測試功能 | 亮度(mcd/m2)、亮透射比(%)、亮照度(mcd/m2·h)、亮照度(mcd/m2) |
傳感器 | 硅光器件 |
測量范圍 | 1mcd/m2-10000cd/m2 |
分辨率 | 1m cd/m2 |
V(λ)失配誤差 | f1'≤3.5%（標準級standard class）or f1'≤5%（一級class 1） |
余弦修正特性 | f2'≤2%（標準級）or f2'≤4%（一級） |
感光面積 | Φ8mm（customized according to needs） |
測試范圍 | ±4%（according to JJG245-2005）or ±1%（according to JJG245-2005） |
測量誤差 | 測量最大允許誤差：一級(±4%讀數±1個讀數）國家一級 |
光學測量準確度 | 探測器余弦修正V(λ)修正水平，達到國家一級照度計要求； |
顯示方式 | 1.54IPS觸摸屏 |
通訊 | Type-C 接口藍牙 |
用戶校正功能 | 修正系數功能、校零、定標 |
外形尺寸 | 50mm*50mm*60mm |
使用環境 | 溫度：18℃～30℃濕度：35%RH～75%RH |
量程 | 自動量程 |
電池容量 | 1600mAh高容量電池一次充電可使用12小時左右 |
重量 | 135g |
顯示刷新率 | 10次／秒； |
采樣 | 16位100KS/s高速AD |
二、探測器光譜響應曲線
三、質保及售后
1. 儀器質保兩年；
2. 終身維護及技術支持。
