X射線分析儀器技術是近年來迅速發展的一門分析技術，它可在材料研究、分析以及各種工業過程和質量控制中測定從金屬、礦物、油和其他液體一直到塑料、藥物、陶瓷材料、納米材料及半導體等各種材料的化學成分和晶體結構。由于X射線分析技術有著不破壞樣品的無損分析，制樣經濟方便，操作簡單，分析結果重現性及精度高的優點，加上近幾年來專業分析軟件的智能化的發展，使得X射線分析技術越來越受到研究和分析工作者的青睞。
為了與X射線分析儀器界的同仁共同攜手促進X射線分析儀器的發展和廣泛交流最新的研究進展，荷蘭帕納科公司(PANalytical B.V.)將于2017年4月27日(周四)在南京舉辦<<帕納科最新X射線分析技術研討會>>，特邀請帕納科資深XRD應用專家陳京一先生介紹帕納科最新推出的臺式X射線衍射儀Aeris及其應用;會議還將安排臺式衍射儀Aeris的網絡直播演示，為您呈現具有真正測角儀的臺式XRD，揭開最新臺式XRD易于操作卻仍可獲得優質數據的奧秘。此次會議還將介紹帕納科XRF最新技術的發展及X射線分析技術在地質、科研、金屬、制藥等眾多工業領域中的應用。同時，安排與會者參觀地調研究院測試研究所X射線實驗室。
除此之外，2017年1月1日帕納科和馬爾文正式合并，會議還特邀馬爾文的應用專家為您帶來粒度分析技術相關的新技術報告，豐富的會議內容，相信會為您帶來諸多收獲，期待您的蒞臨!
報告內容：
1，新型X射線衍射光學的發展
2，X射線熒光光譜分析技術的進展
3，X射線分析在工業檢測及研發中的應用
4，馬爾文形態學分析技術簡介及應用
5，帕納科臺式分析儀器實驗直播演示
特此邀請您光臨出席此次研討會，共同探討X射線分析儀器技術的發展!
地點：江蘇省地質調查研究院測試研究所
地址：江蘇省南京市珠江路700號地質大廈一樓多功能廳
交通：乘坐地鐵2號線西安門站2號出口向北步行500米左右
乘坐6路、52路、59路、80路公交車馬標站下車即到。
聯系人：李謙， 185-0168-3655;徐瑞革，186-1080-0172
