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        1. 教育裝備采購網
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          頻譜分析儀在手機屏幕DDI EMI 測試中應用案例及具體測試方法

          教育裝備采購網 2014-08-01 15:36 圍觀2405次

            DDI(Display Driver IC)顯示器面板驅動IC.用于將數字化處理的圖像信號“掃描”到LCD 或PDP 屏幕上,在三星手機乃至整個移動市場中,顯示器的發展趨勢正在發生轉變,不僅主流企業,連中小型系統供應商目前也將業務向DDI 領域拓展,DDI 技術更多廣泛用于移動終端等電子產品,與多媒體移動應用處理器(AP)技術相結合,為更多廠商提供手機模組及多媒體應用處理器。對于電子產品而言,尤其是對數字移動設備EMC 的測試,是國外最重視的實驗之一,也是很難通過的一項測試,特別是對移動設備的輻射噪聲更難抑制。

            以下測試案例正是我們在客戶中所遇到的EMI 測試應用,在手機EMI 測試中所需要測試的一項工作之一:DDI EMI Noise 測試。例如用RIGOL DSA815 可以對手機屏幕DDI做簡單的EMI 定性分析,測試方法及實測效果如圖所示:

           

            圖一:測試的連接方法

            方案配置:

           設備名稱  型號及參數
           頻譜分析儀  RIGOL DSA815 (9KHz-1.5GHz)
           近場探頭  德國Langer RF2
           上位機軟件  Ultra spectrum
           外置前置放大器  根據需要選擇
           固定支架  根據需要選擇

            因在測試當中,需將頻率范圍內的700MHz-1GHz,間隔共計16個頻點的峰值顯示出來,但DSA815屏幕中最多所顯示的峰值表僅為10個,所以需要結合上位機軟件進行分析:

            圖二:利用上位機軟件進行分析,將個頻點測試結果進行讀取

            測試條件要求:

            1. 頻率范圍 :700MHz---1GHz

            2. RBW/VBW: 10KHz

            3. Sweep Point:2000

            4. Number Of Sweep:5

            5. Attenuation: 0dbm

            6. 測試環境良好,無其他復雜干擾信號

            測試過程:

            首先將DSA815恢復為出廠默認設置,連接近場探頭,根據測試條件的要求,將起始頻率設置為700MHz,終止頻率設置為1GHz,掃寬設置為300MHz,前置放大器打開,輸入衰減設置為0db,降低儀器本身的底噪,可以探測到更多的輻射信號。掃描次數設置為5次,掃描點2000個。將近場探頭放置于手機屏幕頂端的IC處(需將手機屏幕點亮至白色時)。距離大約3mm,依次從上下左右進行掃描,測試結果即可在上位機軟件上讀取16個頻點的峰值結果顯示。

            過程總結:

            此案例中所應用的正是頻譜分析儀最典型的一種應用:EMI預測試??梢詫MI做定性的分析,從而逐步改善我們的產品,達到相應的測試標準。減少到第三方測試的成本和節省更多的時間。

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