本標準適用于J2515型雙縫干涉實驗儀。
J2515型雙縫干涉實驗儀和J2507型光具座及J1202型學生電源配合，供中學物理學生分組實驗使用，利用雙縫干涉原理，測定單色光的波長。
1 基本性能
1.1 基本參數
本儀器由光源、單縫、雙縫、遮光筒、觀察系統、濾色片等組成。
1.1.1 光源的供電電壓12伏，功率為15～24瓦。
1.1.2 單縫縫寬為0.10mm。
1.1.3 雙縫縫距分別為0.25mm和0.20mm。
1.1.4 雙縫至測量系統分劃板的距離分別為600mm和700mm。
1.1.5 濾色片峰值波長分別為6600A和5350A。(本儀器系用眼直接觀察的儀器。峰值波長是對滅常視覺而言)。
1.1.6 在正確使用該儀器的條件下，測量波長的誤差不大于4%。
1.2 工作條件
環境溫度-10～±40℃。
相對濕度小于85%。
2 技術要求
2.1 單狹縫由鉻板制成，裝在單縫座中。單縫縫寬
α＝0．10（-0.02～+0.01）mm。
在縫長20mm范圍內，縫下的麻點疵?。床煌腹恻c）。各麻點最大直徑之和，不得超過3α。
2.2 雙縫由鉻板制成，共兩塊，分別裝在雙縫座中。雙縫的距離為：
d1＝0．250±0．003mm，
d2＝0．200±0．003mm。
式中：d1-第一塊雙縫的中心距離，
d2-第二塊雙縫的中心距離。
雙縫的寬度滿足下列要求：
|α1-α2|≤0．005mm
7≥d/α≥5
當d=0.250mm時，0．35≤α≤0．05mm。
當d＝0．200mm時，0．028≤α≤0．04mm。
式中：α1-雙縫中第一條縫的寬度；
α2-雙縫中另一條縫的寬度。
α=(α1+α2)/2
α--雙縫的平均寬度。
d--雙縫縫距的標稱值。
雙縫的平行度滿足下列要求：
dmax≤d+0．004mm；
dmin≥d-0．004mm；
dmax-dmin≤0．006mm。
式中：dmax--雙縫縫距的最大值，
dmin--雙縫縫距的最小值。
在縫長20mm范圍內，每條縫上的麻點疵?。床贿m光點），各麻點最大直徑之和不得超過3α
2.3 濾色片用有色玻璃制成，共兩塊，分別裝在濾色片座中。它們的峰值波長分別為：
λ1＝6600±100A
λ2＝5350±100A
式中：λ1--紅色濾色片的峰值波長；
λ2--綠色濾色片的峰值波長。
2.4 雙縫至分劃板刻線的距離：
L1=600±2mm
L2＝700±2mm
2.5 目鏡焦距f＝50±1mm在目鏡筒的移動范圍內能使分劃板的刻線成像清晰，沒有明顯畸變。
2.6 測量系統為游標讀數結構，測量主尺，每格刻線D=1．00±0.01mm，每50mm累計誤差小于0.02mm。游標尺的最小讀數為0.02mm，每格刻度D=0.98±0.01mm,
全長49累計誤差小于0.02mm。分劃板的垂直分劃線的交角為90±1°。水平分劃線與滑塊的移動方向的夾角不大于2”。分劃線的寬度不大于0.02mm。
2.7 儀器經安裝調整后，用目鏡觀察自光干涉條紋。當L1＝600mm時，白光零級干涉條紋偏離軸線不大于2mm。當L2＝700mm時，白光零級干涉條紋偏離軸線不大于3mm。
2.8 儀器的綜合測量誤差。
2.8.1 測量鈉光的波長滿足下列要求：
σλ=|λ-λ|≤4%
ρλ=σλ/λ=|λ-λ|/λ *100%≤4%
式中σλ--量波長的絕對誤差：
λ--波長的測定值；
ρλ--鈉光波長的相對誤差。
λ--鈉光的波長（5893A）。
2.8.2 測量濾色片的波長滿足下列要求：
σλ=|λ-λ| < (4λ%+100A)
式中：λ--濾色片的標稱波長。
2.9 儀器的外觀應合JY26-79《教學儀器產品一般質量要求（試行）》第34～36條的要求。
3 檢驗方法
3.1 檢驗單縫寬度
用JCI讀數顯微鏡或其它同情度儀器，先對線條上的麻點疵病進行目測檢驗，應符合2．1條要求再分別測出單縫中心部分邊緣的坐標x，x，（圖64-1），按下式計算單縫的寬度。
α=x2-x1
滿足下式為合格。
0.08≤α≤0.11mm
3.2 檢驗雙縫
3.2.1 檢驗雙縫的中心距
用JC1讀數顯微鏡或其它同類精度儀器，先對線條上的麻點疵病進行目測檢驗，應符合2．2條要求，再分另惻出雙縫中，乙部分邊緣的坐標（圖64-2），按下式計算雙縫中心距
α=[(x4+x3)-(x2+x1)]/2
滿足下式為合格。
0．247≤d1≤0．253mm：
0.197≤d2≤0．203mm；
3.2.2 檢驗雙縫寬度和寬度誤差
利用3.2.2的測量結果計算，滿足下式為合格。
|(x2-x1)-(x4-x3)|≤0．005mm。
當d1=0.250mm時，0.035≤α≤0.05mm，
當d2＝0.200mm晚0.028≤α≤0.04mm，
3.2.3 檢驗雙縫的平行度
在雙縫中心上下各10mm的位置分別測出雙縫邊緣的坐標位置位置X1,X2,X3,X4,X"1,X"2,X"3,X"4
d=[(X4+X3)-(X2+X1)]/2
d"=[(X"4+X"3)-(X"2+X"1)]/2
測出d、d"懶較大的縫距為dmax,較小的縫距為dmin，計算滿足下式為合格。
dmax≤d+0．004mm：
dmin≥d-0．004mm：
dmax－dmin≤0.006mm。
3.3 測雙縫至分劃板分劃線之間距離
L1＝L1+L3+L4
L2＝（L1+L2）+L3+L4
式中：L1——無接長管時，雙縫至分劃板距離的測定值：
L2——加接長管時，雙縫至分戈“板分劃線距離的測定值；
L1——遮光筒的長度；
L1+L2——遮光筒加接長管后的長度；
L3——雙縫至遮光筒端面的距離；
L4——測量系統定位頁至分劃板分劃線的距離。
用1000mm長每亥踱為0．5或1mm的鋼皮尺測出L1中L2，用游標卡尺和深度尺分另側出L3、L4．滿足下式時為合格。
598≤L1≤602mm。例
698≤L2≤702mm。
3.4 檢驗濾色片的峰值波長
用雙縫干涉儀，先用鈉光作光源測出n1條干涉條絞的間距s1,在不改變雙縫干涉儀結構參數的條件下，改用白光照明儀器的單狹縫，在單縫前插入被測濾色片，測出n2條干涉條紋間距s2,按下式計算濾色片峰值波長：
λ1x=(n1s2)/(s1n2) *λ1
式中：λ1——鈉光燈的已知波長5893A
當測出的濾色片的峰值波長λ1x滿足下式時為合格。
|λx-λ|<（100±30）A
式中：λ——濾色片的標稱波長。
·附加30A是儀器誤差。
3.5 檢驗測量系統
3.5.1 檢驗讀數尺
被測主尺與4級精度的光學儀器用標尺（規格50x1）重疊，用5倍放大鏡觀察，主尺的刻線與標尺刻線的中心應重合。．游標尺與主尺安裝在測量系統上后，當主尺與游標尺的零線對準時，主尺49mm處與游尺的50對準。用5倍放大鏡觀察，這兩組刻的中心偏差不超過0．02mm，即游標尺錯位不超過一格。
3.5.2 檢驗分劃板分劃線的垂直度及安裝誤差。
用幾C型測量顯微鏡或其它同精度儀器，把測量系統滑塊組件放在顯微鏡工作臺上，先把分劃板的垂直方向分戈（線與測量顯微鏡目鏡中任一叉絲重合，記下測量顯微鏡度盤上的讀數值Q1。轉動度盤使目鏡中的同一叉絲與水平分戈“線重合，記下測量顯微鏡度盤上的度數Q2。移動顯微鏡的工作臺，并轉動度盤使叉絲與滑塊的基準邊重合，記下度盤上的讀數Q3。滿足下式時為合格。
89°≤（Q2一Q1）≤91°
|Q3-Q2|≤2°
3.6 測量自光零級干涉條紋的中心偏離軸線數值。
儀器安裝調整后，在觀察筒上裝上檢驗用分劃板（如圖64一4），分劃板的分劃線間隔為1.00±0.05mm.
當L1=600mm時，用目鏡觀察，自光零級干涉條紋中心在ab兩刻線之間為合格。當 L2=700mm時，白光零級干涉條紋在cd兩劃線之間為合格。
如干涉條紋比較寬，可按圖五中a的方法，如干紋條紋比較窄，可按圖五中6的方法。
通過讀數尺記上第一條干涉條紋的坐標位置調，轉動手輪測出第n（n≥7）條干涉條紋的坐標位置調、，計算相鄰兩條干涉條紋間的中心距離的平均值ΔX調按下式計算波長λ1
λ1=PΔX/L
滿足下式為合格。
5657<λ1≤6129A
4 檢驗規則
按JY27一79《教學儀器產品的檢驗規則（試行）》中有關規定檢驗，并按下列要求進行交收檢驗和例行試驗。
4.1 交收檢驗
4.1.1 每套儀器應符合本標準2.1，2.2，2.4，2.5，2.7，2.9規定的要求。
4.1.2 對同爐號的濾色片，同批生產的測量尺及整機，分別按本標準中3.4，3.5.1，3.7方法抽撿5%（每次最少抽5套、件），檢驗合格后，對本標準中2.3項，2.6項，2.8項不在測試。
如在抽檢中有不合格時，應檢查原因加倍抽查，仍有不合格者，則本批零件及整機應逐個檢驗，不合格的零件即報廢，整機臺檢不合格應返修或報廢。
4.2 例行試驗
4.2.1 按本標準和 2.1，2.2，2.3，2.4，2.5，2.6，2.7，2.8，2.9條規定內容進行試驗
4.2.2 環境模擬試驗參照Js22is一78《光學儀器環境模擬試驗》規定進行。
5 標志、說明書、包裝、運輸和保管
5.1 產品定位包裝，箱內定位可靠有減震襯墊物。
5.2 其余符合JY2679第56～63條規定。
