摘要：本實用新型提供了一種內封測量光纖的超導帶材，包括上保護層、下保護層、超導帶層以及測量光纖，所述超導帶層和測量光纖封裝在上保護層和下保護層之間，所述測量光纖沿長度方向設置。所述測量光纖采用若干長光纖連續地封裝在上保護層和下保護層之間，或，多根短光纖間斷地封裝在上保護層和下保護層之間。同時還提供了上述超導帶材的制備裝置，本實用新型可以對超導線圈內部所有位置的溫度進行實時測量，無論局部失超的發生在何處，都可以及時發現；提高了超導線圈的緊密性和光滑性，這對那些對磁場均勻度要求很高的高性能磁體意義非凡，極大地提高設備性能。
- 專利類型實用新型
- 申請人上海超導科技股份有限公司;
- 發明人洪智勇;王亞偉;
- 地址201210 上海市虹口區芳春路400號1幢3層301-15室
- 申請號CN201420430961.1
- 申請時間2014年07月31日
- 申請公布號CN204178814U
- 申請公布時間2015年02月25日
- 分類號H01B12/00(2006.01)I;G01K11/32(2006.01)I;H01B13/00(2006.01)I;
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