摘要：本發明提供一種光斑增強處理方法，應用于激光測距，所述方法包括：獲取激光光斑圖像的灰度值極大值點p1,p2,…,pn；預設光斑半徑r，將光斑半徑r與灰度值極大值點p1,p2,…,pn兩兩之間的距離進行比較，獲取光斑中心；對以光斑中心為圓心、r為半徑的區域進行圖像增強處理。上述方法通過先獲取光斑的灰度值極大值點，再確定其中的一點為光斑中心，并對相應區域進行增強處理，能夠對激光產生光斑進行增強顯示，使得用戶能夠清楚地對光斑進行觀察，并且不需要借助輔助設備，提供了很大的方便。本發明還提供了一種應用上述光斑增強處理方法的裝置及激光測距儀。
- 專利類型發明專利
- 申請人深圳市邁測科技股份有限公司;
- 發明人李春來;侴智;駱龍;陳文東;
- 地址518000 廣東省深圳市南山區桃源街道留仙大道1213號眾冠紅花嶺工業南區2區9棟6樓
- 申請號CN201610848440.1
- 申請時間2016年09月23日
- 申請公布號CN106249220A
- 申請公布時間2016年12月21日
- 分類號G01S7/48(2006.01)I;G01S17/08(2006.01)I;
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