摘要：本發明提供一種激光測距系統，包括：激光發射模塊，用于向待測物發射激光；拍攝模塊，用于拍攝激光在待測物形成的光斑圖像；以及測距模塊，用于獲取所發射激光的最大發散角θ，以及激光所形成光斑的最大直徑d，并根據待測距離L＝d/θ得到待測距離L。上述激光測距系統通過獲取激光的最大發散角θ，以及激光所形成光斑的最大直徑d，根據公式L＝d/θ，能夠快速地獲得待測距離，操作簡單，準確性高，提高了測距效率。本發明還提供與上述激光測距系統相關的激光測距裝置、激光測距組合裝置及激光測距方法。
- 專利類型發明專利
- 申請人深圳市邁測科技股份有限公司;
- 發明人侴智;李春來;駱龍;
- 地址518000 廣東省深圳市南山區桃源街道留仙大道1213號眾冠紅花嶺工業南區2區9棟6樓
- 申請號CN201611162925.1
- 申請時間2016年12月15日
- 申請公布號CN106526609A
- 申請公布時間2017年03月22日
- 分類號G01S17/48(2006.01)I;
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