摘要：本發明公開了一種姿態測量系統的精度校準方法，所述姿態測量系統的精度校準方法包括如下步驟：通過橢球擬合模型對姿態測量系統的加速度計的零偏、刻度系數與軸間不正交角進行校準；利用計算出的橢球參數對加速度計原始數據進行補償；根據補償后的加速度計數據通過橢球擬合模型對電子羅盤進行準；利用計算出的橢球參數對電子羅盤原始數據進行補償；根據補償后的加速度計數據與電子羅盤數據對姿態進行解算，上述方法步驟，校準結果可靠、精度高、校準耗時少。
- 專利類型發明專利
- 申請人上海華測導航技術股份有限公司;
- 發明人涂睿;沈雪峰;趙文龍;戴文鼎;岳強;
- 地址201702 上海市青浦區徐涇鎮高涇路599號C座2層
- 申請號CN201510665021.X
- 申請時間2015年10月13日
- 申請公布號CN105352487A
- 申請公布時間2016年02月24日
- 分類號G01C17/38(2006.01)I;
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