<acronym id="pokdi"><strong id="pokdi"></strong></acronym>
      <acronym id="pokdi"><label id="pokdi"><xmp id="pokdi"></xmp></label></acronym>

      <td id="pokdi"><ruby id="pokdi"></ruby></td>
      <td id="pokdi"><option id="pokdi"></option></td>
      <td id="pokdi"></td>

        1. 首頁
        2. 裝備資訊
        3. 熱點專題
        4. 人物訪談
        5. 政府采購
        6. 產品庫
        7. 求購庫
        8. 企業庫
        9. 品牌排行
        10. 院校庫
        11. 案例·技術
        12. 會展信息
        13. 教育裝備采購網首頁 > 知識產權 > 專利 > CN104483297B

          可視化校準激光誘導熒光檢測設備

            摘要:本發明公開一種可視化校準激光誘導熒光檢測設備,包括傾斜設置在色鏡架內的二向色鏡、位于二向色鏡的激光入射方向的激光入射裝置、位于二向色鏡的激光折射方向的透鏡以及位于二向色鏡的熒光接收方向的發射濾光片,所述透鏡外側的焦點處放置有帶窗口的毛細管,所述發射濾光片外側依次設有可調狹縫和光電培增管所述色鏡架在位于二向色鏡的激光透射方向設有十字分劃板,所述十字分劃板外側設有內窺鏡。本發明具有激光入射光線準直、激光入射光線位置實時在線顯示以及可視化校準的優點,可實現可變波長激光誘導熒光檢測設備更換,保證不同波長激光器時的輸出光路系統的穩定,提升檢測器的適用性及穩定性。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人上海通微分析技術有限公司;
          • 發明人閻超;茹鑫;萬青云;王玉紅;姚凡;姚冬;
          • 地址201203 上海市浦東新區張江高科技園區松濤路489號C01座
          • 申請號CN201410741826.3
          • 申請時間2014年12月08日
          • 申請公布號CN104483297B
          • 申請公布時間2017年03月08日
          • 分類號G01N21/64(2006.01)I;
          99久久国产自偷自偷免费一区|91久久精品无码一区|国语自产精品视频在线区|伊人久久大香线蕉av综合

            <acronym id="pokdi"><strong id="pokdi"></strong></acronym>
              <acronym id="pokdi"><label id="pokdi"><xmp id="pokdi"></xmp></label></acronym>

              <td id="pokdi"><ruby id="pokdi"></ruby></td>
              <td id="pokdi"><option id="pokdi"></option></td>
              <td id="pokdi"></td>