摘要:本實用新型公開一種用于色譜填充的核殼顆粒,其采用無孔SiO2顆粒作為核,采用兩相法在其表面修飾多孔SiO2殼層,且SiO2殼層具有放射狀孔結構,修飾好的SiO2核殼顆粒表面的孔徑、殼層厚度及比表面積為可控、殼層厚度可在10-500nm之間調節。
- 專利類型實用新型
- 申請人上海通微分析技術有限公司;
- 發明人閻超;瞿其曙;
- 地址201203 上海市浦東新區張江高科技園區松濤路489號C01座
- 申請號CN201520148651.5
- 申請時間2015年03月16日
- 申請公布號CN204564161U
- 申請公布時間2015年08月19日
- 分類號B01J20/283(2006.01)I;B01J20/10(2006.01)I;