摘要：該發明屬于電子信息技術領域中的天線陣列相位響應參數的測定方法，包括初始化處理，確定天線陣列接收信號向量的樣本自相關矩陣，確定樣本自相關矩陣的信號子空間矩陣與噪聲子空間矩陣，確定方向矩陣，確定信號導向向量，最后確定天線陣列相位響應參數。該發明利用天線陣列接收信號向量的信號子空間矩陣構造無相向量和方向矩陣，通過測定信號方向及信號導向向量等、進而測定天線陣列相位響應參數；采用該方法測量，其結果與實際相位響應參數向量之間的相關系數大于0.99。因而該發明具有在信號方向未知的情況下，可對天線陣列相位響應參數進行有效的測定，測定的相位響應參數與實際相位響應參數之間的誤差小、相似度高等特點。
- 專利類型發明專利
- 申請人電子科技大學;同方電子科技有限公司;
- 發明人萬群;謝偉;徐保根;萬義和;湯四龍;龔輝;丁學科;王長生;鄒麟;殷吉昊;
- 地址611731 四川省成都市高新區（西區）西源大道2006號
- 申請號CN201410307468.5
- 申請時間2014年06月30日
- 申請公布號CN104144020B
- 申請公布時間2016年08月24日
- 分類號H04B17/00(2015.01)I;
教育裝備采購網在線客服
京公網安備11010802043465號
