摘要：本發明提出了一種一鍵式光學測量儀，該一鍵式光學測量儀包括光學系統，標定系統，匹配系統，圖像測量系統，該測量儀通過光學系統完成對待測件的低畸變成像，通過標定系統計算圖像中每個像素代表的實際尺寸大小，通過匹配系統完成對待測件的放置位置進行調整，通過圖像測量系統完成對各個測量參數的微米級測量，整個測量儀突破了硬件設施和光學系統所帶來的精度限制，大大提高了測量的精度和效率。
- 專利類型發明專利
- 申請人成都術有科技有限公司;
- 發明人陳鎮龍;羅穎;宋昀岑;譚育;譚良;凌云;謝恒;劉丁維;李文龍;楊學光;薛丙強;丁健;
- 地址610000 四川省成都市一環路東一段159號
- 申請號CN201310567146.X
- 申請時間2013年11月13日
- 申請公布號CN103575742B
- 申請公布時間2015年11月18日
- 分類號G01N21/88(2006.01)I;G01N21/956(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;
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