摘要：本發明公開了一種材料反射特性測量裝置及方法，包括中空激發源、監測裝置和測量裝置，中空激發源發出的光線照射到被測樣品上，測量裝置接收從被測樣品反射出的穿過中空激發源空心部分的反射光線，監測裝置監測中空激發源發出的光線的光譜信息，通過本發明公開的相應的測量方法，可以測量并計算得到被測樣品全面的光譜反射特性。本發明設計巧妙、光路簡單，無需光學暗室，即可實現材料回復反射的光度、色度和光譜特性的快速、準確測量，具有功能強大、測量準確度高、體積小、成本低、設計一體化等特點。
- 專利類型發明專利
- 申請人杭州遠方光電信息股份有限公司;
- 發明人潘建根;
- 地址310053 浙江省杭州市濱江區濱康路669號
- 申請號CN201310321487.9
- 申請時間2013年07月26日
- 申請公布號CN103344613B
- 申請公布時間2016年09月28日
- 分類號G01N21/55(2014.01)I;G01N21/25(2006.01)I;
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