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          顆粒物的富集和檢測設備

            摘要:本發明公開了一種顆粒物的富集和檢測設備,包括:采樣腔體,所述采樣腔體內具有采樣腔,所述采樣腔內設有將所述采樣腔分成進氣腔和出氣腔的采樣濾膜,所述進氣腔具有進氣口且所述出氣腔具有出氣口;和檢測裝置,所述檢測裝置的檢測窗口與所述進氣腔和/或所述出氣腔連通以對富集在所述采樣濾膜上的顆粒物進行檢測和分析。根據本發明實施例的顆粒物的富集和檢測設備,通過在采樣腔內設置采樣濾膜和檢測裝置,可以同時實現顆粒物在采樣濾膜上的富集和檢測,克服了顆粒物采樣與富集分開進行,無法實時測量的缺點,并且可以克服采樣濾膜運動造成的誤差,適用于氣體顆粒物在線監測。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人江蘇天瑞儀器股份有限公司;
          • 發明人欒旭東;張蘇偉;方軍;吳升海;
          • 地址215300 江蘇省蘇州市昆山市中華園西路1888號天瑞產業園
          • 申請號CN201210483397.5
          • 申請時間2012年11月23日
          • 申請公布號CN103323319A
          • 申請公布時間2013年09月25日
          • 分類號G01N1/40(2006.01)I;G01N15/00(2006.01)I;G01N15/06(2006.01)I;
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