摘要：本發明公開了一種針對掃描測試中捕獲功耗的優化方法，包括如下步驟：生成帶掃描鏈網表；門控時鐘單元分組；功耗約束單元設計；結合生成帶掃描鏈的網表，進行芯片版圖上設計，芯片版圖設計包括布圖規劃、布局、時鐘樹綜合和布線；在完成芯片版圖設計后，將帶掃描結構的門級網表、工藝庫、時序約束文件和測試協議讀入自動測試向量生成工具，進行可測試性設計規則檢查，最后生成測試向量；對生成的測試向量進行門級仿真。本發明可以大幅度減少測試過程中的捕獲功耗，同時本發明不會導致覆蓋率下降和測試向量數目激增，不需要測試設計流程的改變，而且容易實現。
- 專利類型發明專利
- 申請人江蘇東大集成電路系統工程技術有限公司;
- 發明人蔡志匡;陳慧;黃丹丹;李哲文;邵金梓;
- 地址210012 江蘇省南京市雨花區花神大道文竹路23號
- 申請號CN201210592088.1
- 申請時間2012年12月29日
- 申請公布號CN103091620B
- 申請公布時間2014年12月10日
- 分類號G06F1/04(2006.01)I;
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