摘要：本發明提供一種集成式光纖環圈測試系統，包括底座、骨架、外罩，所述骨架設于所述底座上，所述外罩罩于所述底座與骨架之上，所述底座、骨架、外罩圍成的空間形成密閉的上下分體層疊的電路腔和光路腔，所述電路腔內設調制解調電路，所述光路腔內設光路。采用上述集成式的光纖環圈測試系統，極大地減小了外界溫度、電磁等對檢測的干擾，從而有效地提高了檢測的穩定性以及精度。
- 專利類型發明專利
- 申請人天津光拓科技有限公司;
- 發明人楊冬霞;李偉俊;王嘉寧;
- 地址300392 天津市濱海新區華苑產業園區（環外）海泰發展五道16號B-4號樓2-1023室（高新區）
- 申請號CN201210575005.8
- 申請時間2012年12月21日
- 申請公布號CN103063408B
- 申請公布時間2015年05月27日
- 分類號G01M11/00(2006.01)I;
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