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          半導體激光器測試系統

            摘要:本發明提供一種半導體激光器測試系統,包括多臺測試儀、控制主機、測試儀電源線、測試儀供電電源、半導體激光器電源線和數據總線;每臺測試儀與每個被測半導體激光器一一對應;每臺測試儀通過數據總線與控制主機連接,通過測試儀電源線與測試儀供電電源連接,半導體激光器的電源受測試儀控制;測試儀包括處理器、存儲器、功率傳感器、電壓傳感器、電流傳感器、溫度傳感器和制冷設備;處理器接收到控制主機發送的測試指令后斷開與數據總線的電連接,控制上述各傳感器進行參數數據采集,將參數數據處理結果存儲在存儲器中,實現了同時對多臺半導體激光器的工作穩定性的高效、全面準確測試,且離線測試保證了長期測試過程中數據的安全可靠。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人北京光電技術研究所;
          • 發明人張麗雯;陸耀東;王濤;任奕奕;宋金鵬;張玉瑩;
          • 地址100010 北京市東城區東皇城根北街甲20號
          • 申請號CN201510250455.3
          • 申請時間2015年05月15日
          • 申請公布號CN104880298A
          • 申請公布時間2015年09月02日
          • 分類號G01M11/00(2006.01)I;
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