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          一種基于大容量圖像存儲技術的電路板缺陷離線檢測方法

            摘要:本發明公開了一種基于大容量圖像存儲技術的電路板缺陷離線檢測方法。該方法包括以下幾個步驟:1)使用相機逐區域的拍攝需要檢測的電路板,并保存每個局部區域的圖像;2)使用圖像拼接方法將多個單獨區域的圖像按其所拍攝區域的位置關系拼接成一幅完整的圖像;3)使用離線電路板缺陷檢測軟件編輯電路板缺陷檢測程式;4)使用離線電路板缺陷檢測軟件檢測電路板缺陷。通過以上方法和技術,工程師可以最少的占用PCB生產線上電路板檢測設備,在離線狀態可以獲得聯機狀態時完全相同的觀察景象,從而顯著的提高了PCB生產線上電路板檢測設備的利用率,減少了制作缺陷檢測程式的時間。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人北京優納科技有限公司;
          • 發明人鄭眾喜;李鵬杰;劉明星;
          • 地址100085北京市海淀區上地東路9號得實大廈一層北區5號
          • 申請號CN200810116850.2
          • 申請時間2008年07月18日
          • 申請公布號CN101334266A
          • 申請公布時間2008年12月31日
          • 分類號G01B11/00(2006.01);
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