[報告簡介]
透射電子顯微鏡（TEM）能夠以高的空間分辨率，觀察樣品的精細結構，從而廣泛用于材料科學、以及納米技術、半導體研究及生物學研究等領域中。近年來出現的臺式低壓小型透射電鏡（Low-Voltage electron microscope, LVEM），采用遠低于大型透射電鏡的電壓（5kV/25kV）來加速電子束，能夠與輕元素樣品產生更強烈反應，不再需要對樣品額外的染色，大的提升了圖像的襯度和對比度，尤其適合高分子、生物等樣品表征；同時，臺式低壓透射電鏡集成了其他電子成像模式于一體，實現掃描電子顯微鏡( SEM )、掃描透射電子顯微鏡( STEM )或電子衍射( ED )成像等多種功能。而其合理的價格與便捷的操作，也徹底改變了傳統電子顯微鏡價格高昂、操作復雜耗時的現狀。
本報告從臺式低壓透射電子顯微鏡的技術和特點角度出發，來討論低壓臺式電子顯微鏡在圖像成像效果，操作方法等方面帶來的巨大改變及其潛在優勢，并結合其在二維材料、納米顆粒、碳納米管、納米醫學、高分子、細胞生物學等領域的應用進行詳細解析，希望對廣大科研人員有所幫助。
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[主講人介紹]
唐紅杰 博士
材料學博士，畢業于中國科學院過程與工程研究所，美國加州大學河濱分校和特拉華大學博士后。主要研究方向為無機納米功能材料合成與制備，及在能源存儲和轉換領域的應用。在Quantum Design中國子公司表面光譜儀器團隊擔任產品經理，從事Delong低壓透射電子顯微鏡，easyXAFS臺式X射線吸收精細結構譜儀，PSC亞微米非接觸紅外拉曼同步測量系統mIRage和Arradiance原子層沉積系統及等相關產品的應用開發、技術支持及市場拓展。
[報告時間]
開始2020年05月21日 14:00
結束2020年05月21日 15:00
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