2011年1月15-19日，應德國LemnaTec公司之邀，我司應邀赴美國圣地亞哥參加第19屆動植物基因組大會（Plant ａnd Animal Genome XIX Conference，PAG XIX）。PAG會議是全世界基因組學界規模最大、水平最高、組織最好的會議，每年固定在圣地亞哥召開。第19屆PAG會議的與會代表超過2200人，而且多數代表是各國相關研究項目的負責人和技術骨干，可以說是基因組學界的一次盛會！
LemnaTec展臺 CID展臺
澤泉科技的合作伙伴、國際上唯一能提供商業化植物表型組平臺的公司——德國LemnaTec公司布設了展臺，向全世界的科學家展示了“全自動、高通量植物（3D）成像技術”這一得到成功應用的植物表型組平臺技術。同時，LemnaTec第一次展示了整合在人工氣候室（Chamber）中的全自動、高通量植物成像系統。該系統受到與會人員的熱烈歡迎。
LemnaTec展臺與Chamber版HTS系統受到與會人員熱烈關注
會議期間，LemnaTec組織了一個“植物表型組學Workshop”，該Workshop由LemnaTec公司市場總監 Joerg Vandenhirtz主持，來自全球8個著名植物表型組學、植物功能基因組學、作物育種等領域的專家做了報告交流，其中5個報告人都是LemnaTec的用戶，他們共購置了11套Scanalyzer 3D系統，另外3位報告人也都在申請購置Scanalyzer 3D系統。這些報告人的詳細信息和報告題目如下：
Geoff Fincher, ACPFG Adelaide, SA （澳大利亞植物表型組設施“植物加速器”主要負責人之一，三套LemnaTec用戶）
"Evaluation of Next Generation Phenotyping: The Australian Plant Phenomics Facility"
Nils Stein, IPK Gatersleben, Germany （德國IPK作物育種與遺傳研究所，表型平臺負責人，三套LemnaTec系統的用戶）
"High-throughput phenotyping in barley ? the IPK plant phenomics facilities"
Marco van Schriek, KeyGene, Wageningen, NL （荷蘭KeyGene公司技術核心，兩套LemnaTec系統的用戶）
"KeyTrack Root Phenotyping - At the Root of Development"
Fred van Eeuwijk, WUR Wageningen, NL （荷蘭瓦赫寧根大學，正準備購置LemnaTec系統）
"Large Scale Phenotyping In Plant Breeding: An Example In Pepper"
Fabio Fiorani, FZ Julich, Germany （德國Julich表型中心，準備購置LemnaTec系統）
"The Julich Plant Phenotyping Center （JPPC） Platform at Forschungszentrum J眉lich GmbH"
Catherine Howarth, Aberystwyth University, UK （英國Aberystwyth大學，LemnaTec系統用戶）
"Development of high throughput plant phenotyping facilities at Aberystwyth"
Roberto Tuberosa, University of Bologna, Italy （意大利Bologna大學，正準備購置LemnaTec系統）
"DROPS: An EU-funded project to improve crop performance under drought conditions
Christophe Salon, INRA Dijon, France （法國農科院，兩套LemnaTec系統用戶，正準備購置第三套）
"A Platform For High Throughput Phenotyping Of Plant/Plant And Plant/Microorganisms Interactions"
植物表型組學Workshop Chamber版HTS系統
期間，LemnaTec還與KeyGene聯合宣布，歐洲植物表型組平臺PhenoFab正式成立運行，這標志著植物表型組學研究又將上升到一個新的高度！
在這個植物基因組的時代，隨著分子遺傳學、分子生物學以及分子研究技術的不斷完善和發展，我們已經獲得了多種作物的大量的DNA序列信息，有些甚至完成了全基因組序列的測定，面對如此豐富而龐大基因信息，如何將其更加可靠有效地與表型數據結合起來，已經成為當今作物遺傳改良過程中不可逾越的瓶頸！PhenoFab作為第一個面向全球的植物表型研究組平臺，能夠全自動高通量的研究植物表型，從而為表型組學研究提供完美解決方案。PhenoFab植物表型研究平臺的成立與開放，必然會為全球的種子產業及遺傳育種研究帶來新的機遇。
PhenoFabTM通過一個完全自動化的大型溫室作為植物表型組學研究的平臺，平均可以容納1100盆植物，利用獨特設計的傳送裝置，可以將植物有序送至成像暗房中進行成像，成像模塊主要包括可見光成像（可以測量植物的結構、寬度、密度、對稱性、葉長、葉寬、葉面積、葉角度、葉顏色、葉病斑、種子顏色、種子顏色面積等參數）、近紅外成像（可以分析植物的水分測定）和熒光成像（熒光物質可視化分析，如葉綠素、GFP以及其他報告基因）?；谥耙延械南到y，德國LemnaTec公司以及荷蘭KeyGene公司已經對多數作物（包括玉米、煙草、馬鈴薯、油菜以及其他各種蔬菜）的大量性狀（包括抗旱性、生長發育與產量、質量性狀、生物脅迫以及根系發育）進行了廣泛而深入的研究，并且積累了豐富的經驗，這為目前新型PhenoFabTM植物表型組學研究平臺（收費服務）的建立奠定了基礎。PhenoFabTM位于瓦赫寧根市荷蘭農業食品中心，結合了德國LemnaTec公司的全自動成像和傳送系統以及荷蘭KeyGene公司的表型運算分析系統，高通量無損傷的鑒定植物各種表型變異，是表型組學研究的完美解決方案。
德國LemnaTec公司CEO Dirk Vandenhirtz談到：“我們希望通過PhenoFabTM植物表型組學研究平臺，能夠推動植物表型組學研究達到一個新的高度。LemnaTec與KeyGene將會通力合作，發揮各自優勢，為植物表型組學研究提供世界頂尖的技術支持。LemnaTec成立于1998年，一直致力于科學的圖像處理技術研究，并且已經在全球范圍內建立了多套植物表型組學研究系統。而PhenoFabTM作為一套新型的表型組學研究平臺，是LemnaTec第一次直接為育種家提供服務，這對于LemnaTec具有重大的戰略意義。”
荷蘭KeyGene公司CEO Arjen J. van Tunen說道：“利用新型的PhenoFabTM表型組學研究平臺，我們能夠快速無損傷的獲得大量可靠的植物表型數據，結合我們所掌握的大量的DNA序列信息，便可以對遺傳育種過程中所關心的重要性狀進行更深入的研究，開發出新型的生物標記，從而大大提高作物遺傳改良進程。我們非?？粗嘏cLemnaTec公司的這次戰略合作，這必將為我們雙方以及我們的客戶帶來巨大的利益！”
本次PAG會議期間，澤泉科技還遇到了合作伙伴美國CID公司。CID公司是在澤泉科技的建議下首次參加PAG會議，會議的展示效果非常好，他們對澤泉科技的建議表示了衷心的感謝。
澤泉科技作為一家在植物、農學等領域有著專業技術實力和良好服務水平的公司，將一如既往的攜手國際一流合作伙伴，為國內廣大客戶提供高品質的產品、專業的解決方案和完善的技術支持與服務。
