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          第七屆圖書館 校體購1

          澤泉科技應邀參加中國農學會2017年年會

          教育裝備采購網 2017-08-28 13:52 圍觀1774次

            2017年8月7日至9日,澤泉科技應邀參加了在河南鄭州舉辦的中國農學會棉花分會2017年年會。本次大會由中國農學會棉花分會主辦,河南省農業科學院、河南省棉花學會、棉花生物學國家重點實驗室承辦,吸引了來自中國農科院棉花研究所、河南農業大學、河南大學、河南省農業科學院、中國農業大學、中國農科院鄭州果樹研究所、中國農科院農田灌溉研究所等全國20多個科研機構及院校的400多名專家學者與會。

            

            會議期間,澤泉科技與參會老師熱烈討論了許多技術問題,推廣了很多結合實驗的技術解決方案。例如,與來自中國農科院棉花研究所和湖南省棉花科學研究所的老師探討了根系研究的解決方案。由于生長在地下的特殊性,根系研究成為困擾廣大科研工作者的難點,很多老師都在尋找原位測量根系的方法。美國CID公司的CI-600和CI-602就是一種能夠提供原位測量根系儀器設備,該設備利用微根窗原理,配合預埋的透明根管,逐段掃描生長在地下的植物根系,最后通過軟件分析根系生長發育情況。老師在現場也提出野外原位測量根系很難獲得整個根系的信息,是否存在一種既能夠獲得整個根系信息,又不破壞根系生長的測量手段?答案是肯定的。我們提供了一種X光根系掃描技術,植物生長在特殊的對X光無干擾的容器和基質中,能夠動態地監測和分析植物根系的整個生長過程。X光根系掃描系統能夠測量最長1m的根系,解決了同類CT產品只有25cm測量范圍的局限問題。同時,該X光掃描系統還能夠測量植物果實、種子等,應用范圍廣泛。

            

            我們還與參會老師探討了CONVIRON植物培養方案、植物光合熒光測量方案以及植物多酚測量方案等先進的植物生理生態測量技術。澤泉科技的高通量植物基因型-表型育種平臺AgriPheno深受專家學者的歡迎,大家熱烈討論了“如何從基因型過渡到表型研究?”、“表型研究對分子育種有哪些幫助?”、“我們為什么要運用高通量的技術手段來研究表型?”等內容。

            

            本次年會,澤泉科技在展臺上展出了美國CID公司的CI-340便攜式光合儀、CI-203激光葉面積儀和CI-110冠層分析儀,法國ALCI公司的POP葉圓片采集器,加拿大CONVIRON公司培養箱控制器CMP6060等。其中法國ALCI公司的POP葉圓片采集器受到了眾多與會專家的青睞。該設備小巧易用,能夠設定采樣個數,定量采集葉圓片,并可方便地將葉圓片轉移至96孔板中,很好地減少人為誤差,提高了采樣速率和準確性,是植物采樣的優秀助手。

            

            一直以來,澤泉科技不是單純的產品銷售,而是提供了很多卓有成效的解決方案,為客戶解決了實驗方面遇到的難題。澤泉科技愿意與更多的客戶合作,共同為中國農業發展做出一份貢獻!

          點擊進入上海澤泉科技股份有限公司展臺查看更多 來源:教育裝備采購網 作者:上海澤泉科技股份有限公司 責任編輯:李瑤瑤 我要投稿
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