一、應用領域：大面積 3D 光學測量系統
先進制造業
考古學與古生物學
消費類電子產品
醫療設備
模塑
光學
鐘表業
二、產品優勢
1. 亞微米高度可重復性，可擴展整個區域內
2. 無需 Z 軸掃描即可測量 40mm 的單次測量高度
3. 具有極低場失真的雙側遠心鏡頭，提供精確的測量
4. 可追溯性：采用ISO 標準
每一款 S wide 產品都是為提供準確且可追溯的測量結果而制造的。系統根據 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯標準進行校準。
5. 與 3D CAD 模型的形狀偏差：提供幾何差異和公差測量
6. 表面紋理測量儀器的校準
我們的所有系統精心制造，提供準確、可追溯的測量。系統按照符合ISO 25178第 7 部分關于下列參數的指南的可追溯標準進行校準：Z 放大系數、XY 橫向尺寸、平面度誤差以及偏心度。
